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迪赛康

DSK-GS-SG-GSSG-Probe Calibration Substrate(100-1250µm)

支持的探针间距:100μm~1250μm
ISS(阻抗标准基板)通过将参考面移至探针尖端来消除系统误差,从而确保精确的信号完整性(SI)验证和高频去嵌入。

100-1250μm

支持的探针间距

Al₂O₃+Au

材料

GS/SG/GSSG

支持的触点类型

工作流程

从咨询到技术支持

7天内定制好你的探针

1

咨询

确认你的探针需求

2

设计

根据你的需求设计

3

交期

7天内

4

技术支持

极快的技术支持响应